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圆锥面上键槽测量量具

阅读:43发布:2020-05-13

专利汇可以提供圆锥面上键槽测量量具专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及机械测量技术领域,尤其涉及圆锥面上 键槽 测量量具。通过 基座 ,所述基座底面设有第一通槽,所述第一通槽上方的基座连接有测量组件;所述测量组件包括基座一端连接的 支撑 板;所述支撑板另一端连接第一千分表;实现圆锥面上键槽测量量具便于测量,并且测量 精度 较高。,下面是圆锥面上键槽测量量具专利的具体信息内容。

1.圆锥面上键槽测量量具,其特征在于,包括基座,所述基座底面设有第一通槽,所述第一通槽上方的基座连接有测量组件;所述测量组件包括基座一端连接的支撑板;所述支撑板另一端连接第一千分表。
2.根据权利要求1所述的圆锥面上键槽测量量具,其特征在于,所述基座底面设置有第二通槽,所述第二通槽与第一通槽相互垂直,所述第二通槽上方的基座至少一端连接有第二支撑板,所述第二支撑板的另一端与第二千分表连接。
3.根据权利要求1所述的圆锥面上键槽测量量具,其特征在于,所述第一通槽为弧形槽。
4.根据权利要求1所述的圆锥面上键槽测量量具,其特征在于,所述第一通槽为“V”形槽。
5.根据权利要求1所述的圆锥面上键槽测量量具,其特征在于,所述第一通槽内连接有支撑座;所述第一通槽内顶面中央设有第一磁条;所述支撑座顶面设有与第一磁条磁性相反的第二磁条。

说明书全文

圆锥面上键槽测量量具

技术领域

[0001] 本发明涉及机械测量技术领域,尤其涉及圆锥面上键槽测量量具。

背景技术

[0002] 用与和带轮连接的传动轴,在其安装带轮的圆锥面上均会开设一键槽,对于该键槽深度尺寸的要求较高,但该键槽铣在传动轴的圆锥面上,采用深度千分尺测量较为困难;由于圆锥面上没有支撑点,深度千分尺测量后尺寸精度较低。

发明内容

[0003] 本发明的目的是提供一种便于测量,并且测量精度较高的圆锥面上键槽测量量具。
[0004] 本发明的技术方案如下:
[0005] 圆锥面上键槽测量量具,包括基座,所述基座底面设有第一通槽,所述第一通槽上方的基座连接有测量组件;所述测量组件包括基座一端连接的支撑板;所述支撑板另一端连接第一千分表。
[0006] 所述基座底面设置有第二通槽,所述第二通槽与第一通槽相互垂直,所述第二通槽上方的基座至少一端连接有第二支撑板,所述第二支撑板的另一端与第二千分表连接。通过在第二通槽上方的基座上设置第二支撑板,该第二支撑板可设置的较长,当需要测量键槽至轴面距离较长的被测工件时,只需将基座旋转90°后,即可测量。
[0007] 所述第一通槽为弧形槽。弧形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。
[0008] 所述第一通槽为“V”形槽。“V”形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。
[0009] 所述第一通槽内连接有支撑座;所述第一通槽内顶面中央设有第一磁条;所述支撑座顶面设有与第一磁条磁性相反的第二磁条。通过设置支撑座,该支撑座与长方体接触面设有与长方体相适配的凹槽,并通过第二磁条连接在基座第一通槽内;通过支撑座底部的凹槽跨放在长方体上,使支撑座跨放牢固,不容易倾倒,导致测量误差。
[0010] 本发明的有益效果是:本发明的测量量具设置了带第一通槽的基座,对设置在基座上的测量组件起到支撑作用;测量组件上的第一千分表对键槽进行深度测量;由于基座支撑第一千分表,简化测量过程,提高了测量精度。附图说明
[0011] 通过下面结合附图的详细描述,本发明前述的和其他的目的、特征和优点将变得显而易见。
[0012] 其中:图1为本发明第一种实施方式结构示意图;
[0013] 图2为本发明第二种实施方式结构示意图;
[0014] 图3为本发明第三种实施方式结构示意图;
[0015] 图4为本发明第四种实施方式结构示意图;
[0016] 图5为本发明第五种实施方式结构示意图;
[0017] 附图中,1为基座,2为第一通槽,3为支撑板,4为第一千分尺,5为第二通槽,6为第二支撑板,7为第二千分表,8为支撑座,9为第一磁条,10为第二磁条,11为弧形槽,12为“V”形槽,13为被测工件。

具体实施方式

[0018] 实施例1
[0019] 参见图1所示,圆锥面上键槽测量量具,包括基座1,所述基座底面设有第一通槽2,所述第一通槽2上方的基座连接有测量组件;所述测量组件包括基座一侧连接的支撑板
3;所述支撑板另一端连接第一千分表4。
[0020] 测量时,把基座跨放在校对件上,千分表的底部的测头测到校对件键槽的最深点,调零千分表,然后将基座通槽跨放在被测零件的轴面上,千分表底部的测头测到被测零件键槽的最深点。
[0021] 实施例2
[0022] 参见图2所示,由于键槽在被测零件上的位置尺寸会有不同,若当键槽至轴面的距离较长时,支撑板长度不足,导致无法测量,需要重新安装较长的支撑板,费时费;针对上述问题,优选的,所述基座底面设置有第二通槽5,所述第二通槽5与第一通槽2相互垂直,所述第二通槽上方的基座至少一端连接有第二支撑板6,所述第二支撑板6的另一端与第二千分表7连接。通过在第二通槽上方的基座上设置第二支撑板,该第二支撑板可设置的较长,当需要测量键槽至轴面距离较长的被测工件时,只需将基座旋转90°后,即可测量。
[0023] 实施例3
[0024] 参见图3所示,优选的,所述第一通槽为弧形槽11。弧形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。
[0025] 实施例4
[0026] 参见图4所示,优选的,所述第一通槽为“V”形槽12。“V”形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。
[0027] 实施例5
[0028] 参见图5所示,由于当被测零件与锥面连接的是长方体,通槽难以跨放在长方体上;针对上述问题,优选的,所述第一通槽内连接有支撑座8;所述第一通槽内顶面中央设有第一磁条9;所述支撑座顶面设有与第一磁条磁性相反的第二磁条10。通过设置支撑座,该支撑座与长方体接触面设有与长方体相适配的凹槽,并通过第二磁条连接在基座第一通槽内;通过支撑座底部的凹槽跨放在长方体上,使支撑座跨放牢固,不容易倾倒,导致测量误差。
[0029] 本发明并不局限于所述的实施例,本领域的技术人员在不脱离本发明的精神即公开范围内,仍可作一些修正或改变,故本发明的权利保护范围以权利要求书限定的范围为准。
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